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存儲器IC測試
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KLT的測試平台不斷擴展，工程服務可應用于Flash Memory – NOR and NAND types, Mask-ROM, EPROM, EEPROM, DRAM, SDRAM, RDRAM, DDRI& DDRII, SRAM, Pseudo SRAM and Memory Embedded ICs。這些終端産品應用包含移動電話、DSC、DV、遊戲控制台、DRAM模塊、智能卡、PC和PC外圍設備。
我們可以提供完整的測試平台來支持MemoryIC測試需求。
Vendor Model
Advantest T5335/T5365
T5371
T5377
T5581
T5830
Verigy V5400
Credence Kalos
Teradyne M5
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晶圓針測 晶圓研磨/切割/晶粒挑揀 IC成品測試/掃腳 老化測試
測試解決方案
存儲器IC測試 消費性IC測試 邏輯/混訊/SOC IC測試 RW 晶圓重新封裝建構技術 CIS測試 RF無線射頻IC測試 MEMS测试 指紋 IC測試 奔應整合自動化測試
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